2025年Micro LED產業大會近日在深圳隆重召開，壹倍科技首席技術官高錦龍博士受邀出席并發表主題演講，重點分享了公司在Micro LED全鏈條檢測技術方面的突破性進展。

高錦龍博士在演講中指出，當前Micro LED產業正處于從實驗室走向規模化量產的關鍵階段，而檢測技術作為貫穿材料、芯片、巨量轉移、封裝測試全流程的核心環節，直接決定了產品的良率和成本。壹倍科技自主研發的全鏈條檢測解決方案，通過AI視覺檢測、光譜分析和自動化測試系統的深度融合，實現了從外延片質量評估到最終模組性能測試的全流程覆蓋。

在技術開發方面，高博士詳細介紹了三個創新突破：首先是在微米級缺陷檢測領域，通過深度學習算法將檢測精度提升至亞微米級別；其次開發了非接觸式電致發光檢測技術，大幅降低了傳統探針測試對微型芯片的損傷風險；最后建立了基于大數據的良率預測模型，能夠提前預判生產過程中的潛在問題。

這些技術突破正在幫助產業鏈合作伙伴有效解決Micro LED量產過程中的關鍵技術瓶頸。據高博士透露，采用壹倍科技檢測方案的客戶，其Micro LED產品良率平均提升了15個百分點，生產成本降低了30%以上。

與會專家認為，全鏈條檢測技術的成熟將加速Micro LED在AR/VR、車載顯示、超大尺寸商用顯示等高端應用場景的普及。高錦龍博士表示，壹倍科技將繼續加大研發投入，與產業伙伴攜手推動Micro LED技術實現從‘可制造’到‘可量產’的歷史性跨越。